固体、固体表面及び気体の物性、素性や反応などを分析測定する装置類とこれらの測定結果を用いて半導体/記録媒体製造プロセスの管理、制御を行う機器を扱っています。



お知らせ

H281214() 1216(金)
SEMICON JAPAN 出展

H29年1月8日(日) - 1月9日(月)
日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 出展



OmniVac社ホームページ
  真空機器及び表面分析コンポーネント

Products
真空機器及び表面分析コンポーネント
EVAPORATORS エバポレータ
SOURCES X線源、電子源、イオンソース、UV光源
MANIPULATORS マニピュレーター
SAMPLE TRANSFER TOOLS サンプルトランスファー
SAMPLE HOLDER STAGES サンプルホルダ、ホルダステージ
UHV SYSTEMS UHVチャンバー
IPES 逆光電子分光システム





Verity社ホームページ


光学式エンドポイントディテクタ

SD1024シリーズ エンドポイントディテクタ SD1024
・SP2100 分光式リフレクトメータ
SD1024とキセノンランプを組み合わせでウェハー上の膜厚などを測定します。
・SD512NIR 近赤外光分光装置





PRO-POWER社ホームページ


無停電電源装置

無停電電源装置(UPS) 環境対応型 無停電電源装置
燃料電池ハイブリッドシステム リチウムポリマー・燃料電池 ハイブリッド evergreen


ダイレクトメタノール燃料電池評価装置

DMFC用電子負荷装置 燃料電池用電子負荷評価装置 PRO200F




SJUTS社ホームページ  エレクトロンマルチプライヤー

シリーズKBL 二次電子増倍管 CEMs






Suface Concept社ホームページ  ディレイラインディテクタ

DLDs
ディレイライン型位置敏感型検出器
DLDs




  arrandee Auコーティングガラス

Gold arrandeeTM / Au(111)
Auコーティングガラス
フレームアニーリングで容易に金の単結晶(111面)が再生されます。