HOSHIN
ELECTRONICS CO.,LTD.

光ヘテロダイン干渉面内変位計

photo   特長
  • 静止状態からの変位・振動測定ができます
  • レーザ光の照射方向と直交する横方向のあらゆる物の変位・振動解析が可能
  • マイクロマシン等の積層膜の面内方向の変位・振動測定に用います
仕様
    品 番 PHS-6000
    測定範囲 ±40μm
    分解能 40nm
    測定周波数 DC〜20kHz
    最大検出速度 400mm/sec

 

LOGO   株式会社 豊伸電子
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