HOSHIN
ELECTRONICS CO.,LTD.
光ヘテロダイン干渉面内変位計
特長
静止状態からの変位・振動測定ができます
レーザ光の照射方向と直交する横方向のあらゆる物の変位・振動解析が可能
マイクロマシン等の積層膜の面内方向の変位・振動測定に用います
仕様
品 番
PHS-6000
測定範囲
±40μm
分解能
40nm
測定周波数
DC〜20kHz
最大検出速度
400mm/sec
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