■仕様
■ FT/IR-6100
| 測定波数範囲 |
: |
7800〜350cm-1 |
| 最高分解 |
: |
0.5 cm-1(オプション:0.07 cm-1) |
| SN比 |
: |
42000:1(1分積算、P-P) |
| 干渉計 |
: |
28°入射マイケルソン干渉計(コーナーキューブミラー使用) |
| 光源 |
: |
高輝度セラミック光源 |
| 検出器 |
: |
温調式DLATGS |
■ FT/IR-6200
| 測定波数範囲 |
: |
7800〜350cm-1 |
| 最高分解 |
: |
0.25 cm-1(オプション:0.07 cm-1) |
| SN比 |
: |
45000:1(1分積算、P-P) |
| 干渉計 |
: |
28°入射マイケルソン干渉計(コーナーキューブミラー使用) |
| 光源 |
: |
高輝度セラミック光源 |
| 検出器 |
: |
温調式DLATGS |
■ FT/IR-6300
| 測定波数範囲 |
: |
7800〜350cm-1 |
| 最高分解 |
: |
0.07 cm-1 |
| SN比 |
: |
50000:1(1分積算、P-P) |
| 干渉計 |
: |
28°入射マイケルソン干渉計(金蒸着コーナーキューブミラー使用) |
| 光源 |
: |
高輝度セラミック光源 |
| 検出器 |
: |
温調式DLATGS |
| ラピッドスキャン |
: |
20Hz/sec(16 cm-1分解) |
|