J-805型 円二色性分散計
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J-805は、CD測定でもっともよく使われる紫外領域に測定領域を絞り、タンパク質や核酸などの研究において有効にご利用いただけます。光源には空冷タイプの150Wキセノンランプを使用することにより、光源冷却用のユーティリティが必要なく、汎用の分光光度計と同じ感覚でご使用いただけます。試料室もコンパクトタイプの小型のものになり、装置を小型化することが可能になりました。また、対応OSもWindows98、2000になり、高度なデータ管理が可能です。 |
■特長
- CD専用機
特殊な付属装置を使用しないで、CDスペクトルを測定したい場合に適した装置。
- 紫外域専用
測定波長域が185〜400nmでタンパク質、核酸やキラルな有機化合物の測定の大部分をカバー。
- コンパクト試料室
円筒型・角型セルに対応。恒温水循環方式による温度コントロールが可能。
- 波長スキャン
最も時間効率のよい連続スキャンを採用。
- 専用システム
本機をベースにした専用測定システムへの拡張性。
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■仕様
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J-820
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J-805
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| 光源 |
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450W Xeランプ(水冷方式) |
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150W Xeランプ(空冷方式) |
| モノクロメータ |
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ダブルプリズム |
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ダブルプリズム |
| 試料室 |
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大型タイプ |
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コンパクトタイプ |
| 変調器 |
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PEM |
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PEM |
| 入力数 |
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2(内部)/2(外部) |
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2(内部) |
| 測定波長範囲 |
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163〜1100nm |
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185〜400nm |
| 分解能 |
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0.1nm以下(253.7nmにて) |
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1nm以下(253.7nmにて) |
| 迷光 |
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0.0003%(200nmにて) |
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0.0003%(200nmにて) |
| 測定モード |
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スペクトル測定
時間変化測定
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スペクトル測定
時間変化測定 |
| スキャン方式 |
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連続スキャン
ステップスキャン
自動レスポンススキャン
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連続スキャン |
| 走査速度 |
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1〜10,000nm/min
(連続スキャン時)
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1〜5,000nm/min |
| フルスケール |
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±10mdeg
±200mdeg
±2000mdeg
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±200mdeg
±2000mdeg
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| RMSノイズ |
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0.045mdeg 185nm
0.035mdeg 200nm
0.035mdeg 500nm
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0.1mdeg 250nm |
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| コンピュータ部 |
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32bit AT互換機、OS: Windows2000 |
| データ処理 |
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スペクトル表示、重ね書き、四則演算、ベースライン補正、ピーク検出、HT→OD変換 |
| オプションプログラム |
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タンパク二次構造解析、熱変性解析 |
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