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低価格で、高いけがき精度を実現！
 特 長
- けがき回数によるけがき線のズレが無い
- 試料を直接手で触れたり押える必要がない
- 人力に頼ること無く、バネの力で一定の押圧で、けがくことが可能
- 断面観察用試料が精密且つ容易に作成可能
- 開発実験および品質管理用に最適
- 低価格を実現
仕様 SC-150
| 適用試料 |
: |
半導体ウェハー、サファイヤ、SiC、ガラス、セラミックス等 |
| 試料サイズ |
: |
最大径155mm X 4t |
| 試料取り付け方法 |
: |
真空チャック式 |
| ステージ移動 |
: |
X方向＝160mm（max） 微調整付き |
| ステージ回転 |
: |
θ＝360°微調整付き |
| けがき針 |
: |
ポイント式ダイヤモンド針 |
| けがき長 |
: |
Y方向＝170mm （max） |
| けがき荷重 |
: |
10ｇ〜400ｇ（標準）範囲変更可 |
| けがき角度 |
: |
50°〜70°可変 |
| 拡大鏡 |
: |
25倍 |
| 外形寸法 |
: |
325W×299D×292H |
| 重量 |
: |
約15Kg |
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