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資料請求番号 NEW0766

レーザ干渉法による精密測定機器 (株)オプトサイエンス
レーザ干渉法による精密測定機器
超高精度
レーザ干渉測長プローブ

レーザ干渉法による精密測定機器
レーザ干渉式
顕微振動解析装置

レーザ干渉法による精密測定機器
レーザ干渉式振動計

レーザ干渉法による精密測定機器
波長安定化He-Neレーザ

SIOS Meßtechnik GmbH社製品の取扱いを開始しました。

SIOS Meßtechnik GmbH社は、レーザ干渉法による精密測定機器の専門メーカーで、長さ・角度・重量・力・圧力・振動を測定する測定デバイスや測定機器を開発・製造しております。

超高精度レーザ干渉測長プローブ
波長安定化He-Neレーザを光源としたレーザ干渉法により、20mm/50mmの測長レンジでありながら、1nmの高精度測定を実現しました。

レーザ干渉式顕微振動解析装置
ファイバー動光式レーザ干渉振動計と顕微鏡を組合せることで、MEMSなどの動特性の測定に適した振動解析装置です。

レーザ干渉式振動計
レーザ干渉法による振動計で、測定レンジは±20mm、測定周波数レンジは、0〜 500kHzです。

波長安定化He-Neレーザ
波長精度 632.9914±0.0003nmの高精度波長安定化He-Neレーザウォームアップ時間も10分以内です。

記載内容は掲載時点のものでその後変更されている可能性があります。

掲載日: 2011.06.17

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