大塚電子株式会社のホームページへ >> 大塚電子株式会社 〒573-1132　大阪府枚方市招提田近3-26-3 TEL.072-855-8554　FAX.072-855-9100 e-mail:osaka.office@photal.co.jp 営業品目 ■ 光分析機器 * 光散乱光度計 ダイナミック光散乱光度計（粒径・粒径分布，分子量） ダイナミック光散乱光度計（粒径・粒径分布） スタティック光散乱光度計（分子量） ファイバー光学動的光散乱光度計 連続角度光散乱光度計 ゼータ電位・粒径測定システム（ゼータ電位，粒径・粒径分布） ゼータ電位・粒径測定システム（ゼータ電位） レーザーゼータ電位計（ゼータ電位，粒径・粒径分布） レーザーゼータ電位計（ゼータ電位） 濃厚系粒径アナライザー（粒径・粒径分布） 高分子フィルムダイナミックス解析装置（構造解析） * 紫外・可視分光光度計 キャピラリー電気泳動装置 瞬間マルチ測光システム（分光検出器） 超高感度瞬間マルチ測光システム（分光検出器） * 近赤外分光光度計 瞬間マルチ近赤外測光システム（分光検出器） * 蛍光光度計 高温蛍光マイクロプレートリーダー 蛍光測定システム * 分光膜厚計 反射分光膜厚計 分光エリプソメータ 卓上型分光エリプソメータ 膜厚測定システム * 赤外ガス分析計 工業用ガス分析装置 ガス中微量水分分析装置 * LED評価機器 全光束測定システム CIE平均化LED光度測定システム 配光測定システム * その他 高感度示差屈折計 ■ その他の光応用機器 * 医療関連機器 炭酸ガス炭素同位体比分析装置 赤外分光分析装置 血球細胞除去用装置 アダモニター ディスクリート方式臨床化学自動分析装置 デンシトメトリー分析装置 クロマトリーダー 電位･温熱組合せ家庭用医療機器 * FPD評価機器 LCD評価装置（パネル、モジュール） FPDモジュール検査装置 FPDモジュール測定システム ELデバイス光学特性検査装置 ELパネル寿命検査システム 動画特性測定装置 LCDセルギャップ検査装置 LCDセルギャップ測定システム（液晶封入のみ） 位相差フィルム検査装置 偏光フィルム検査装置 位相差フィルム・光学特性検査装置 低リタデーション測定装置 カラーフィルタ分光特性検査装置 FPD用膜厚測定システム 半導体用膜厚測定システム * 機能材料評価機器 発光測定システム 反射測定システム 透過・吸収測定システム 物体色測定システム 光源測定(色度・輝度・照度)システム 分光放射輝度測定システム 微小光学素子測定システム 蛍光測定システム 複屈折位相差測定システム * インプロセス用評価機器 溶液モニター 高速LED光学特性モニター プラズマモニター インライン膜厚測定システム 蒸着膜モニター 多点測定モニター

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