■ 製品情報
- Ｘ線回折装置(XRD)
- Ｘ線トポグラフ装置
- 工業用Ｘ線イメージング装置
- Ｘ線発生装置
- 半導体関連装置
- インライン・オンライン製品
- 小角散乱測定装置(SAXS)
- 単結晶Ｘ線構造解析 低分子関連装置
- 生体用Ｘ線イメージング装置
- 波長分散蛍光Ｘ線分析装置
- 熱分析装置
- 携帯型成分分析計 NITON
- 残留応力・歪測定装置
- 単結晶Ｘ線構造解析 生体高分子関連装置
- Ｘ線非破壊検査装置
- エネルギー分散蛍光Ｘ線分析装置
- 発生ガス分析装置
- 光学素子
- 水晶・単結晶方位測定装置
- ソフトウェア製品
- 検出器
- 全反射蛍光Ｘ線分析装置
- 携帯型ラマン分光計
- 磁性流体シールユニット
■ 分野・材料
- 半導体・電子材料・電子部品
- 電池
- 太陽電池
- 医薬品
- 食品
- 材料科学
- ガラス・窯業・セラミックス
- 金属・合金
- セメント
- 繊維・高分子・プラスチック・ゴム
- 自動車・機械
- プロセス制御
- 石油・石油化学製品
- ライフサイエンス
- 農薬
- 化学
- ナノ材料
- 化粧品
- 鉱物・鉱石
- 地質系試料
- 環境
- 安全＆セキュリティ
- 鉄鋼
- 科学捜査・文化財
- 非破壊検査
- 教育
■ 分析・手法
- 極点・配向
- 薄膜評価
- 極薄膜評価・膜厚評価
- 低分子結晶構造解析
- 携帯型ラマン
- ハロゲン分析
- 携帯型成分分析計Niton
- 分光分析
- 原材料識別
- 定性分析
- 定量分析
- 硫黄分析
- 粒子径分布・粒度分布
- 結晶多型
- 工業用SAXS/WAXS（広角Ｘ線散乱）
- Ｘ線顕微鏡
- 粉末結晶構造解析
- タンパク質結晶構造解析
- 残留応力測定
- リートベルト解析
- SAXS 小角散乱
- 生体高分子用Ｘ線小角散乱測定
- 微小部Ｘ線回折
- 熱分析
- 単結晶Ｘ線構造解析
- Ｘ線回折
- 蛍光Ｘ線分析
- Ｘ線反射率法
- Ｘ線トポグラフィー
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登録カテゴリー
