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マイクロプローブ方式
温度・磁界可変ホール効果測定システム


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Model4000シリーズ低抵抗・高抵抗モデル

下記仕様は汎用ホールシステムModel 1000でマイクロプローブを使用し、印加磁場B=±0.5Tesla接点抵抗 Rcon=1Ω 接点許容発熱Pcon<0.1mW の条件下での数値です。
 
汎用モデル/ 1000 シリーズ仕様

抵抗率測定範囲
D=1mm の場合10-4〜10+9Ωcm
D=1μmの場合10-7〜10+6Ωcm
抵抗値測定範囲 10-3Ω〜10+10Ω
キャリア 移動度 0.2cm2/Volt-sec 〜10+5 cm2/Volt-sec
測定キャリア密度 D=1mm の場合6×10+5cm3〜6×10+18cm-3
D=1μmの場合6×10+8cm-3〜6×10+21cm-3
測定電流範囲 1nA〜10mA
測定電圧範囲 10μV〜10V
 
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この画像のシステム構成はお客様のお手持ちマグネット、マグネット電源、ターボ ポンプを組み込んでのシステム構成の一例
マグネットとマイクロプローバースライド機構
 
システム構成内容の一例
  • ケースレー計測器
  • 日本語LabVIEW ホール計測ソフト
  • マイクロプローバー及びスライド機構、架台
  • マグネット
  • マグネット電源
 
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ホール用薄型マイクロプローバー
 
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日本語LabVIEW 計測画面
 
汎用シリーズ
  • Model 1000
  • Model 1000SP(手持ち機器組込みモデル)
低抵抗シリーズ
  • Model 2000
  • Model 2000SP(手持ち機器組込みモデル)
高抵抗シリーズ
  • Model 3000
  • Model 3000SP(手持ち機器組込みモデル)
低抵抗・高抵抗シリーズ
  • Model 4000
  • Model 4000SP(手持ち機器組込みモデル)
*各シリーズの資料を用意しておりますのでお問い合わせください。
 
 
本ホール効果測定システムのマイクロプローバーは(独)産業技術総合研究所殿との共同研究結果を 活かして設計・製作し、LabVIEWホール計測ソフトは同所の許諾を受けて製品化したものです。
(同所 特許第3837545号)
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