仕入れ先リンク集
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SPECS Surface Nano Analysis社（ドイツ）：日本総代理店
- 静電半球型エネルギーアナライザ（PHOIBOS 225/100/150, 150 WAL, 150 NAP）
- 検出器（Detector: Multichanneltron, 2D-CCD, Mott Spin, 1D Delayline, Delayline）
- タイムオブフライトスペクトロメータ（TOF: THEMIS 600/1000）
- 高分解能電子エネルギー損失分光装置（EELS: DELTA 0.5 HR）
- 走査プローブ顕微鏡（SPM 150 Aarhus Rel.2, SPM 150 Aarhus HT, JT-SPM, Tyto, KolibriSensor）
- 低速電子回折装置（LEED/AES: ErLEED 100/150）
- 低エネルギー電子顕微鏡（LEEM/PEEM: FE-LEEM P90）
- 光電子分光装置（ESCA: SAGE HR100, SAGE HR150, SAGE 150）
- 二次イオン質量分析装置/セカンダリ中性粒子質量分析装置（SNMS/SIMS: INA-X）
- 高感度UV光源（UVS 10/35, UVS 300, UVLS, TMM 302, TMM 304）
- 電子源（FG 15/40, EQ 22/35）
- イオン源（IQE 12/38, IQE 11/35, IQP 10/63, Wien Mass Filter）
- X線源（XR 50）
- X線モノクロメータ（Foucs 500）
- 薄膜蒸着装置
- 電子ビームエバポレータ（EBE-1/EBE-4）
- 電子サイクロトロンレゾナンス（PCS-ECR/MPS-ECR）
- プラズマクラッカー源（PCS-RF）
- サーマルガスクラッカー源（TGC-H）
- 反射高速電子回折装置（RHEED: RHD-30）
- SPECS Zurich社（スイス）：日本総代理店
- Nanonis SPMコントロールシステム
- ベースパッケージ
- Realtime Controller（RC4）
- Signal Conditioning（SC4）
- アドオンモジュール
- Oscillation Controller with Integrated Digital PLL
- Dual-OC4 for multi-frequency AFM
- Mathematical Lock-in Detector Module（Software）
- Nanonis Programming Interface（Software）
- Atom-Tracking Module（Software）
- Kelvin Probe Controller Module（Software）
- Interferometer Controller Module（Software）
- SPIPTM Image Processing Software（Software）
- Other Modules
- ピエゾドライバ
- High-Voltage Amplifier for Piezo Scanners HVA4
- Piezo Motor Driver PMD4
- アダプテーションキット
- Adaptation Kit for Aarhus SPM family by SPECS
- Adaptation Kit for Omicron STM/AFM
- Adaptation Kit for the Veeco MultiMode
- Upgrade Kit for RHK SPM100
- Adaptation Kit for JEOL AFM/STM
- Adaptation Kit for Unisoku Microscopes
- Adaptation Kit for SPS-Createc Microscopes
- Other available adaptation Kits to Nanonis control system
- アクセサリ
- FEMTO Preamp-Kit
- Tuning Fork and Needle Sensor Preamplifier
- Signal Adder
- Z-Modulator
- STMシミュレータ
- Nanonis OC4オシレーションコントローラ
- OC4 Oscillation Controller
- OC4-Station Standalone Oscillation Controller
- Dual-OC4 for multi-frequency AFM
- Kelvin Probe Controller
- Nanonis Multiprobeコントロールシステム
- Ferrovac社（スイス）：日本総代理店
- ウォ−ブルスティックマニピュレータ（WM40, WMWA40, WMG40, WMGWA40）
- ウォーブルスティックアクセサリ（Pincer Grip, Forks, Hex Key）
- サンプルホルダ/サンプルレセプタ（Sample Plates, Carriers, Receptors）
- サンプルトランスポータ（GMD40, RMD40, RMDG40, RMDS40）
- 直線回転導入機（MD16, MD40, MDG40, ）
- 回転導入機（RD16, RD40, RDP40）
- 電流導入端子
- ロードロックシステム（KS40, KS63, KS100）
- エバポレータ（EV40FC）
- サンプルヒーティングステージ
- XYZマニピュレータ（AX40-XY, MINIAX16-3）
- Nanosurf社（スイス）：日本総代理店
- Nanosurf easyPLL plus周波数検出制御装置
- チューニングフォーク用UHVプリアンプ
- Zurich Instruments社（スイス）：日本総代理店
- HF2IS Impedance Spectroscope
- HF2IS-MF Multi-frequency
- HF2IS-RT Real-time
- HF2IS-UHS Ultra-high Stability
- HF2LI Lock-in Amplifier
- HF2LI-MF Multi-frequency
- HF2LI-MOD AM/FM Modulation
- HF2LI-PLL Phase-locked Loop
- HF2LI-RT Real-time
- HF2LI-UHS Ultra-high Stability
- HF2 Series Pre-Amplifiers
- HF2CA Current Amplifier
- HF2TA Current Amplifier
- HF2 Series Software
- HF2IS Graphical User Interface
- HF2LI Graphical User Interface
- Kurt J. Lesker社（米国）
- Huntington Mechanical Laboratories社（米国）
