仕入れ先リンク集
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SPECS Surface Nano Analysis社(ドイツ):日本総代理店
- 静電半球型エネルギーアナライザ(PHOIBOS 225/100/150, 150 WAL, 150 NAP)
- 検出器(Detector: Multichanneltron, 2D-CCD, Mott Spin, 1D Delayline, Delayline)
- タイムオブフライトスペクトロメータ(TOF: THEMIS 600/1000)
- 高分解能電子エネルギー損失分光装置(EELS: DELTA 0.5 HR)
- 走査プローブ顕微鏡(SPM 150 Aarhus Rel.2, SPM 150 Aarhus HT, JT-SPM, Tyto, KolibriSensor)
- 低速電子回折装置(LEED/AES: ErLEED 100/150)
- 低エネルギー電子顕微鏡(LEEM/PEEM: FE-LEEM P90)
- 光電子分光装置(ESCA: SAGE HR100, SAGE HR150, SAGE 150)
- 二次イオン質量分析装置/セカンダリ中性粒子質量分析装置(SNMS/SIMS: INA-X)
- 高感度UV光源(UVS 10/35, UVS 300, UVLS, TMM 302, TMM 304)
- 電子源(FG 15/40, EQ 22/35)
- イオン源(IQE 12/38, IQE 11/35, IQP 10/63, Wien Mass Filter)
- X線源(XR 50)
- X線モノクロメータ(Foucs 500)
- 薄膜蒸着装置
- 電子ビームエバポレータ(EBE-1/EBE-4)
- 電子サイクロトロンレゾナンス(PCS-ECR/MPS-ECR)
- プラズマクラッカー源(PCS-RF)
- サーマルガスクラッカー源(TGC-H)
- 反射高速電子回折装置(RHEED: RHD-30)
- SPECS Zurich社(スイス):日本総代理店
- Nanonis SPMコントロールシステム
- ベースパッケージ
- Realtime Controller(RC4)
- Signal Conditioning(SC4)
- アドオンモジュール
- Oscillation Controller with Integrated Digital PLL
- Dual-OC4 for multi-frequency AFM
- Mathematical Lock-in Detector Module(Software)
- Nanonis Programming Interface(Software)
- Atom-Tracking Module(Software)
- Kelvin Probe Controller Module(Software)
- Interferometer Controller Module(Software)
- SPIPTM Image Processing Software(Software)
- Other Modules
- ピエゾドライバ
- High-Voltage Amplifier for Piezo Scanners HVA4
- Piezo Motor Driver PMD4
- アダプテーションキット
- Adaptation Kit for Aarhus SPM family by SPECS
- Adaptation Kit for Omicron STM/AFM
- Adaptation Kit for the Veeco MultiMode
- Upgrade Kit for RHK SPM100
- Adaptation Kit for JEOL AFM/STM
- Adaptation Kit for Unisoku Microscopes
- Adaptation Kit for SPS-Createc Microscopes
- Other available adaptation Kits to Nanonis control system
- アクセサリ
- FEMTO Preamp-Kit
- Tuning Fork and Needle Sensor Preamplifier
- Signal Adder
- Z-Modulator
- STMシミュレータ
- Nanonis OC4オシレーションコントローラ
- OC4 Oscillation Controller
- OC4-Station Standalone Oscillation Controller
- Dual-OC4 for multi-frequency AFM
- Kelvin Probe Controller
- Nanonis Multiprobeコントロールシステム
- Ferrovac社(スイス):日本総代理店
- ウォ−ブルスティックマニピュレータ(WM40, WMWA40, WMG40, WMGWA40)
- ウォーブルスティックアクセサリ(Pincer Grip, Forks, Hex Key)
- サンプルホルダ/サンプルレセプタ(Sample Plates, Carriers, Receptors)
- サンプルトランスポータ(GMD40, RMD40, RMDG40, RMDS40)
- 直線回転導入機(MD16, MD40, MDG40, )
- 回転導入機(RD16, RD40, RDP40)
- 電流導入端子
- ロードロックシステム(KS40, KS63, KS100)
- エバポレータ(EV40FC)
- サンプルヒーティングステージ
- XYZマニピュレータ(AX40-XY, MINIAX16-3)
- Nanosurf社(スイス):日本総代理店
- Nanosurf easyPLL plus周波数検出制御装置
- チューニングフォーク用UHVプリアンプ
- Zurich Instruments社(スイス):日本総代理店
- HF2IS Impedance Spectroscope
- HF2IS-MF Multi-frequency
- HF2IS-RT Real-time
- HF2IS-UHS Ultra-high Stability
- HF2LI Lock-in Amplifier
- HF2LI-MF Multi-frequency
- HF2LI-MOD AM/FM Modulation
- HF2LI-PLL Phase-locked Loop
- HF2LI-RT Real-time
- HF2LI-UHS Ultra-high Stability
- HF2 Series Pre-Amplifiers
- HF2CA Current Amplifier
- HF2TA Current Amplifier
- HF2 Series Software
- HF2IS Graphical User Interface
- HF2LI Graphical User Interface
- Kurt J. Lesker社(米国)
- Huntington Mechanical Laboratories社(米国)