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科学機器・ソフト購入ガイド / 技術情報リンク集

内容 会社名
単結晶のX線回折・ラウエカメラ測定
単結晶の方位解析の説明
試料結晶のステレオ投影図を作成、結晶の方位決定
ラウエ図形を解析して、回折斑点の指数づけをするなどのラウエ・パターンの取得
チャート使用による結晶方位の解析
ラウエ方位解析の基礎
軸縦を回転マトリックスで表現
逆空間と逆格子ベクトル
提供:(株)アールイーエス・ラボ
・試料調製辞典
Cryogenic preparation of sample materials
日常の有害物質
ドライアイス、液体窒素を使った凍結粉砕方法
RoHS - 電気電子機器に含まれる特定有害物質の使用を制限する指令
最適な結果を得るための試料調製
・画像式粒子径・粒度分布測定について
・焼きなまし(焼鈍)、灰化など各種熱処理技術について
Additive Manufacturing
焼鈍
灰化
か焼
カーボンナノチューブ
カーボンナノチューブ
熱硬化
乾燥
Graphitization
強熱減量
金属粉末射出成形 (MIM) / Ceramic injection moulding (CIM)
Siliconization (シリコナイズ)
焼結
真空はんだ付け & 真空ろう付け
提供:ヴァーダー・サイエンティフィック(株)
プローブの使い方
微小磁界の測定
ゼロドリフト特性
提供:(株)エーデーエス
【第1回】テラヘルツ分光による物性評価
  −ハードウェアを中心として−
【第2回】テラヘルツ分光による物性評価
  −THz-TDSのデータ解析−
【第3回】テラヘルツ分光による物性評価
  −時間領域分光法以外の手法、およびテラヘルツ波光源−
【第4回】テラヘルツ分光による物性評価
  −テラヘルツ波源の偏光依存性と測定の繰返し性−

インライン分光計測システム
  −品質を向上する為に−
【入門】分光法による膜厚解析

有機ELモジュールの輝度・色度評価

【入門】 FTIR法によるガス分析
Perfluorocompounds(PFCs)の計測技術
  −半導体業界のPFCs削減活動における評価方法−

【入門】ゼータ電位
【応用】ゼータ電位の測定データいろいろ
繊維表面のゼータ電位
光散乱法によるフミン酸-重金属複合体のゼータ電位および粒径測定

【入門】微粒子の粒子径(粒径)測定

【入門】キャピラリー電気泳動
【雑話】キャピラリー電気泳動序論
化粧品中の無機陽イオンとアミン類のキャピラリー電気泳動による分析
キャピラリー電気泳動による環境水試料の無機イオン分析

提供:大塚電子(株)
エリプソメトリー講座
1) エリプソメトリーとは何か?
2) エリプソメーターは何を測定するのか?
3) どのようにエリプソメーターを作るか?
4) 光学定数nとkとは何か?
5) エリプソメトリーの測定はどのように行われるか?
6) エリプソメトリーのデータ解析
提供:ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)
磁性流体 提供:(株)シグマハイケミカル
・磁気の単位について詳細、単位換算
・物質の着磁(磁化)の原理
・鉄材の磁化(着磁)について
・フラックスメーターを用いた磁束量測定について
・テレビの画像障害について
提供: 東洋磁気工業(株)
クリーンルーム清浄度監視システム 提供:トランステック(株)
ハイスピードカメラ使用実績
提供:(株)ノビテック
X線回折ラボ
蛍光X線分析ラボ
熱分析ラボ
単結晶X線構造解析
X線吸収分光法
X線による分析アプリケーション
提供:(株)リガク

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