ユニソク
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株式会社ユニソク
ユニソク
ゆにそく
unisoku
UNISOKU CO., LTD.


超高真空走査型プローブ顕微鏡システム USM-1100シリーズ
USM-1100 UHV-SPM (STM,AFM) 
Ultrahigh Vacuum Scanning Probe Microscope System USM-1100 Series
走査型トンネル顕微鏡装置（STM） USM-1100S
走査型プローブ顕微鏡装置（STM/AFM） USM-1100 SA
SPM
AFM
STM
SEM
SNOM
NSOM
導入室
Load-Lock Chamber
処理室
Preparation Chamber 
観測室
Observation Chamber 
空気バネ式除振架台
コイルバネ吊り除振方式
到達真空度 1.3×10-8 Pａ
AFM測定モード
NC-AFM
non contact AFM
自己検出方式（抵抗検出）
LEED/AES測定
Q-mass
高分解能
AFM像
Room temperature
sample surface
observe

超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM-1200シリーズ
USM-1200 UHV-SPM(STM,AFM) 
Ultrahigh Vacuum and Ultra Low Temperature Scanning Probe Microscope System USM-1200 Series
走査型トンネル顕微鏡装置（STM） USM-1200S
走査型プローブ顕微鏡装置（STM/AFM） USM-1200 SA
超高真空室温極低温条件下
SPM観測
防振能力
液体ヘリウムクライオスタット
10K 以下
dI/dV測定
dI/dZ測定
探針 処理
試料表面分析

超高真空超低温磁場中走査型プローブ顕微鏡システム USM-1300シリーズ
USM-1300 UHV-SPM (STM,AFM) 
Ultrahigh Vacuum, Ultra Low Temperature and High Magnetic Field Scanning Probe Microscope USM-1300
温度可変超低温走査型トンネル顕微鏡装置 USM1300S 4He VTI
3He超低温走査型トンネル顕微鏡装置 USM1300S 3He
超高真空 超低温 強磁場中
極低温下 超極低温下
4He VTI
温度可変インサート
超伝導マグネット
温度可変測定
非磁性材料
転換室
内部除振構造
通電加熱ホルダー
4.2K 以下

超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡 USM-1400シリーズ
USM-1400 UHV-SPM(STM,AFM) 
UHV Ultra Low Temperature SPM system USM-1400 Series
走査型トンネル顕微鏡装置(STM) USM-1400 S
Single Probe SPM
マルチモードSPM (STM/AFM/SNOM) USM-1400 M
4-プローブ SPM USM-1400 4P
4 Probe SPM
Vibration isolation table
Liquid He Cryostat
8K以下
Viewing ports
Radiation shields
Sample, probe exchange port
SPM stage
Copper cooling rod
Liquid helium
シングルプローブ型
4-プローブ型
XY stage
Z stage
Probe holder
Sample stage

極環境SPM装置 HS-2000 
Extreme Physical Fields Scanning Probe Microscope HS-2000
極高真空 極低温 強磁場 対応高性能SPM
原子分解能保証
自己検出方式ノンコンタクトAFM
新開発高性能ノンコンタクト用プリアンプ採用
完全非磁性
インサート部 チタンチャンバー 採用
環境制御型SPM
高性能SPMコントローラー
AFM検波回路
PLL回路
インサートチャンバー
チタン製
排気系自動制御機構付
ベーキング時過加熱防止機能付
サーモスタット

走査型プローブ顕微鏡コントロールシステム Unisurface α
Scanning Probe Microscope Control SystemUnisurface Alpha
SPMコントロールシステム
デジタル制御
精密
測定シーケンス
電子回路
モジュール化
メンテナンス性
サポート体制
低ノイズ化
安定性
グラフィカルインターフェイス
フィードバック方式
デジタルI制御
フィードバック帯域周波数
約10kHz
フィードバック関数
リニア Log 5次多項式
Ｚ方向分解能
入力/出力
16bit/16bit
最小検出可能電流
実測値
0.8pＡ
アプローチ回路制御方式
慣性駆動方式
ステッピングモーター方式
手動リトラクト 
有
スペクトル測定
I-V I-Z その他 ユーザー設定可能
測定ポイント 
指定点 Line Grid
マルチバイアス
CITS
リソグラフィー
FFＴ-PowerＳpec.

SPMユニット製品 

スパッタイオン銃 IB-102
Sputter Ion Gun IB-102
超高真空中
アルゴン
不活性ガス
イオンビーム
クリーニング
クリーニング用装置
照射
EMISSION電流
バリアブルリークバルブ
ガス導入口
XY偏向幅
XYポジション
フォーカス 調整機能

STM用探針加熱装置 EB-101
Electron-beam Heater for STM Tip EB-101
電子ビーム
電子ビーム源
探針
プローブ先端
集束 照射
先端 加熱
清浄化
Tungsten
タングステン
フィラメント
直線導入機

電子衝撃加熱用電源 EB-401
Electron Beam Power Supply for Sample Heating EB-401
高電圧
電子ビーム 加熱

STM探針電解研磨装置 UTE-1001
Electrochemical Etching System for STM Tip UTE-1001
タングステン探針
電解研磨
白金線リング
コントローラー
探針 プローブ 作成
電流変化

変調STM測定付属装置 U100-1025P
Lock-in Amplifier for Modulation Measurement U100-1025P
バイアス電圧
探針―試料間ギャップ
一定周波数
一定周波数変調
トンネル電流
ロックインアンプ
STS測定
微分モード
変調周波数
変調電圧

K-セル蒸着源 U100-1000
K-Cell Evaporator U100-1000
蒸着材料 加熱
熱電対
アルメルークロメル
ヒーター
φ0.5mmタングステン
ターゲット表面
蒸着源

4プローブ表面電気特性測定装置 UMP-1000 
4-Nano-Probe System for SEMUMP-1000
アクチュエータ
XYZ軸 制御
ナノメートルオーダー
小型
軽量
超高真空 超低温環境
接触検知機能
ユーザーインターフェース
特注案件
プローブ数変更
走査型プローブ顕微鏡測定
XY軸移動量
パルス制御
リニア制御
ナノプローブステージユニット

真空中溶液試料導入装置 UPV-1000
高速 パルスバルブ
真空容器 内
高精度 溶液
噴霧
有機薄膜
吸着
サンプル表面

KFM測定用付属ユニット UKFM-100
電位分布
2次元 像
ケルビンフォース顕微鏡（KFM)
ケルビンフォース顕微鏡測定用AFMシステム
KFM測定用AFMシステム

表面分析付属品、消耗品 
SPM 関連消耗品
STM用探針(Pt;Ir)
Pt;Ir 白金イリジウム
研磨針
STM用金属プローブ
AFM用カンチレバー
プローブホルダ
サンプルホルダ

STM測定用試料(HOPG)
小判型
こばんがた
菱形
ひしがた
サンプルホルダー 取付プレート

絶縁碍子（ガイシ）：凸型
ぜつえん がいし
アルミナ
SPMサンプルホルダ
SPMサンプルホルダ

絶縁碍子（ガイシ）：数珠玉碍子
真空内 配線用等
絶縁碍子（ガイシ）：筒型
スパッタイオン銃 内部材料
（アルゴンガス入り）バルブ付きミニシリンダ

交換用フィラメント
タンタル製フィラメントカバー
白金線（Pt）リング（交換用）
セル（角型セル）
ミニマグライト（2個1組）
Kセル蒸着用坩堝（ルツボ）

チタン合金製超高真空チャンバ
チタン合金製ロードロックシステム
非磁性 軽量
耐久性
チタン合金製チャンバ 製作
チタン合金チャンバ
チタンチャンバ

RHKテクノロジー社製品
RHK Technology, Inc.
RHK's Exclusive sales agent in Japan

RHKテクノロジー社製 SPMコントローラ SPM1000 
アナログ 9チャンネル
デジタル 3チャンネル
同時 多チャンネル測定
分光機能
I/V I/Z F/Z dl/dV dl/dZ
パルスカウント用 デジタル 3チャンネル
パラメータ 設定幅
オープンアーキテクチャー
プリアンプ
アップグレード
低ノイズ
耐久性

RHKテクノロジー社製UHV温度可変AFM・STMシステム UHV300 
UHV700 Series
Beetle TM Design 採用
低温観測
高速スキャニング
熱ドリフト 少 小
レーザーパス 構成
4分割 PSD配列
AFM測定モード
ラテラルフォース測定
STM
Tuning Forkセンサー STM/AFM
Beam Deflection STM/AFM
常温ステージ
LN2ステージ
LHeステージ
温度可変オプション
ビームデフレクション


大気中（環境下）STM & AFM ATM300&350
UHV対応ヘッド

ピエゾモータコントローラ PMC100
アプローチインターフェイス
パルスステップ

微小電流検出STM用プリアンプ

ユニソク社製品 ストップトフロー／高速分光測定装置
ストップトフローラピッドスキャン分光測定装置 RSP-1000 
Stopped-flow Rapid-scan Spectroscopy System RSP-1000
ストップドフローラピッドスキャン分光測定装置
近赤外
近赤外マルチチャンネル
InGaAs リニアアレイセンサ
低温ストップトフロー
低温ストップドフロー
吸収スペクトル
ストップドフロー
ストップトフロー法
ストップドフロー法
紫外 - 可視時間分解分光吸収スペクトル
最高 1ms 間隔
最大 512本 測定
波長 - 時間軸変換機能
非線形 最小二乗 フィッティング 機能
蛍光測定
蛍光測定キット
光路長
フローフラッシュ用観測セル
レーザー
フロー・フラッシュ測定
自動コック付ストップトフロー混合装置
自動コック付ストップドフロー混合装置
混合デッドタイム 3ms以下 
ピストンドライブ・フロントストップ方式
自動コック付標準ダブルミキシング装置（5℃〜60℃） 
自動コック付低温シングルミキシング装置（>-60℃） 
自動コック付低温ダブルミキシング装置（>-60℃） 
蛍光測定 オプション 
フローフラッシュオプション
パルス光源
恒温水循環槽
水銀キセノンランプハウス
蛍光測定用光源
D2ランプハウス
紫外部光源
ハロゲンランプハウス
可視部安定光源
分光器
ツェルニィターナー回折格子
焦点距離

時間分解分光測定装置 TSP-1000 
近赤外
InGaAs 検出器
ナノ秒過渡吸収分光測定装置
レーザーフラッシュフォトリシス装置
ナノ秒 領域
ナノ秒パルスレーザー
励起
光化学反応
レーザーフラッシュ フォトリシスシステム
フォトマル測定
10 ナノ秒〜1秒
過渡 的
吸光度
擬似対数サンプリングモード
単一波長
マルチチャンネル測定
時間分解
時間分解能
時間分解過渡吸収スペクトル
スペクトル変化
パルスジェネレータ
励起光源
パルスYAGレーザー 
パルス 幅
4-6ns
試料 セル 室
フィルター 挿入 スペース
高速シャッター
スターラー付
フォトマル検出器
マルチチャンネル測光部
フォトダイオードアレイ
ゲート時間
ストップトフロー混合装置
ストップドフロー混合装置
フローフラッシュ測定用
時間変化
反応速度測定
反応速度
擬似対数サンプリング機能
励起光源射出波長
簡易型色素レーザー
OPO波長可変レーザー
モニター光源用フラッシュランプ
近赤外単一波長測光部


低温セル室 USP-203 / USP-203CD
Cryostat For Spectrophotometer USP-203 / USP-203CD
円偏光2色性分光光度計
CD 用
光学測定 用 クライオスタット
紫外・可視分光光度計
蛍光光度計
吸収 蛍光
円二色分散計
市販装置
軽量 コンパクト
真空ポンプ 不要
スターラ 取付可能
アルミ製セルホルダ
発泡ウレタン断熱構造
光学窓 
合成石英製 三面
適合 試料 セル
分光光度計用セル
蛍光光度計用セル
測温抵抗体 Pt100
真空ポンプ不要
簡単操作

微弱光分光測定装置 CSP-1000
微弱光
時間分解測定
裏面入射型冷却CCD
紫外 - 可視 - 近赤外光
吸収 発光スペクトル
高速 連続計測
リアルタイム計測
長時間計測
フォトンカウンティング用 光電子倍増管
フォトマル

自動コック付ダブルミキシング装置 USP-SFM-D20
シングルミキシング
ダブルミキシング

CD用自動コック付ストップトフロー混合装置 USP-SFM-CD10
CD用自動コック付ストップドフロー混合装置 USP-SFM-CD10
CD用/X線用自動コック付ストップトフロー混合装置
CD用/X線用自動コック付ストップドフロー混合装置
Stopped-flow Mixer with Automatic Cock for CD USP-SFM-CD10
円二色性分光光度計
過渡的 変化
シーケンシャル

自動コック付低温ミキシング装置 USP-SFM-CRD10
自動コック付低温ダブルミキシング装置
試料混合装置
液体窒素
ストップトフロー測定
ストップドフロー測定

CD（円二色性分光装置）用
X線(EXAFS、小角散乱)用
IR用
ESR用
NMR用ストップトフロー混合装置
NMR用ストップドフロー混合装置
温度ジャンプ装置
高圧ストップトフロー装置
高圧ストップドフロー装置
温度ジャンプ装置
ジュール熱方式
赤外レーザー方式
光熱変換分光測定装置
近接場光学顕微鏡
SNOM NSOM
カスタムパルスジェネレータ
分光画像測定装置

ウルトラファーストシステムズ社製品
Ultrafast Systems LLC
フェムト秒 ナノ秒時間分解分光測定装置
時間分解分光
測定装置製造
フェムト秒分光装置
フェムト秒分光システム
グローバル解析ソフトウェア

フェムト秒ポンププローブ過渡吸収分光測定装置 HELIOS
フェムト秒ポンプ・プローブ透過吸収測定装置
時間・波長・吸光度データ
フェトム秒レーザー対応
ブレッドボード
再生増幅器付フェムト秒レーザー 対応可能

アップ・コンバージョン蛍光寿命測定装置 HALCYONE
ミラー
フィルター
BBO結晶
光電子増倍管
時間分解蛍光データ
ユーザーフレンドリー
分光器
ディレイステージ
時間分解蛍光データ

波長・時間・吸光度データ解析ソフトウェア SURFACE EXPLORER PRO
波長 時間 吸光度 3次元データ
SVD （ 特異値分解 ）
成分分析
グローバル解析
チャープ補正

超高真空極低温強磁場走査型プローブ顕微鏡Scanning Probe Microscopes ( UHV - SPM )
走査型トンネル顕微鏡 Scanning Tunneling Microscopes ( STM )
原子間力顕微鏡 Atomic Force Microscopes ( AFM )
走査型近接場光学顕微鏡 Near-field Scanning Optical Microscopy ( SNOM )
円偏光二色性 (Circular Dichroism ) 用ストップトフロー装置
円偏光二色性 (Circular Dichroism ) 用ストップドフロー装置
クライオスタット
ナノプローブ ( 4探針 ) 表面電気特性測定装置
光学測定用クライオスタット
高速分光測定装置
分光分析装置
Ultrahigh Vacuum Scanning Tunneling Microscopes ( UHV - STM )
UHV and Ultra Low Temperature Scanning Tunneling Microscopes ( UHV - ULT STM )
Scanning Electron Microscope ( SEM )
Atomic Force Microscope ( AFM )
Near-field Scanning Optical Microscopy ( SNOM - NSOM )
Laser Flash Photolysis System ( TSP-1000 )
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