薄膜の膜厚と屈折率の測定なら、コンパクトなデザインの新型、α-SE™がおすすめです。 従来の大掛かりな装置ではなく、可能な限り小さくコンパクトにまとめました。 理想的なテーブルトップの装置です。 また、コンピューターとのインターフェースにUSBを装備。取得したデータを簡単に取り込むことができます。

• 使いやすい
  ボタン操作一つでソフトウェアを操作できます。
• 柔軟性
  誘導体、半導体、有機物などの材料の測定に対応しています。
• パワフル
  確かな分光エリプソメーターの技術で単一波長のエリプソメーターでは不確定な膜厚と、屈折率の測定が可能です。
• 低価格
  高レベルな測定機器よりも低価格ながら、パワフルな装置です。
• 高速測定
  １００波長を数秒で同時に測定し、すぐに解析結果が出ます。

モデルリストの中からモデルを選び、 "Project"にデータを保存します。そして"Measure"ボタンを押すだけです。とっても簡単！

進歩したモデリング能力

• 分散モデルにより、どんな材料も記述できます−
  Cauchy, Sellmeier, Lorentz, Guassian, Tauc-Lorentzなど・・・
• 屈折率の勾配
• 表面／界面の粗さ

• 波長範囲: 370nm から 900nm (180波長)
• 入射角度: 70°または 90°
• コンピューター接続ポート: USB Port (1.1 以上)
• サンプルの自動高さ調節機能つき
  データ取得時間:
  • 3 秒. (高速モード)
  • 10 秒. (標準モード)
  • 30 秒. (高精度モード)

• 電源: 100−240VAC/1A/47-63Hz IEC320ソケット
• 重量: 18Kg （39ポンド）（平面の設置すること）)
• コンピューター:
  • Windows 98 以上
  • USB ポート (1.1 以上)