半導体産業の研究用に、ポリマー解析にと様々な用途に使える優れた機器です。

• 波長範囲: 2-33μｍ（333−500cm^-1）
• 回転補償子(コンペンセーター)[Rotating compensator( RCE )]
  0度から360度までの正確な "Delta" データが取得でき 高度な測定能力を持ちます。
• 高精度の自動入射角制御
  
• 光学への応用
  
  • 2 − 30 ミクロンの赤外波長範囲での正確な光学定数(n, k)
  • 反射の位相シフト（直接測定）
• 半導体技術への応用
  • EPI-膜厚
    
  • 抵抗率の測定
    
  • ドーピングプロファイル
• ポリマー解析
  
  • ポリマー解析は、FTIR 分光学と似ていますがエリプソメトリーには利点があります：
    超薄膜、不透明な基板、多層膜など。
• エリプソメトリーと、標準の FTIR 測定の両方で測定してみてください。

IR-VASE^® 利用可能なオプション

• 追加用ディテクター 標準の FTIR 反射/透過測定のための検出器
• サンプル　ヒート　ステージ
  温度範囲は、室温から300度まで。
• クライオスタット:
  サンプルの温度を変えて測定できます(4.2から700ケルビン)
  IR用ウインドウでのオプション