粒子径・粒度分布

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資料請求	製品名/型番	販売/製造会社名
	画像解析式粒度分布測定装置カムサイザー^® P4、カムサイザー^® X2 粒度分布と粒子形状の測定を同時に行えます。	ヴァーダー・サイエンティフィック(株) Retsch Technology（レッチェ・テクノロジー）登録製品一覧へ
	ダイナミック光散乱光度計ゼータ電位・粒径・分子量測定システム濃厚系粒径アナライザー他	大塚電子(株) 登録製品一覧へ
	ゼータ電位測定システムゼータ電位・粒径・分子量測定システム	大塚電子(株) 登録製品一覧へ
	多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA 動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定（粒子径0.6nm～10μm）装置です。標準1分の高速測定。	大塚電子(株) 登録製品一覧へ
	高濃度ナノ粒子用　粒度分布測定装置NANOPHOX/R 本装置は独自のPCCS方式により、従来の動的光散乱方式では測定が難しい高濃度ナノ粒子の粒度分布を高精度に測定する事が可能。	(株)日本レーザー Sympatec GmbH 登録製品一覧へ
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