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光分析装置分光器 】 【光関連(オプティックス、カメラ、画像計測)分光器

分光器

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サムネール製品名/型番販売/製造会社名
膜厚モニター、反射分光膜厚計
マルチチャンネル分光器、ウェハ厚み計、表面形状測定装置
大塚電子(株)
分光放射輝度計CS-2000A
放射輝度0.003 cd/m2という超低輝度領域までの測定性能により、10万対1※のコントラスト測定が可能なポリクロメータ方式の分光放射輝度計です。
※ ピーク輝度 350cd/m2とした場合
コニカミノルタジャパン(株) センシング事業部
分光放射輝度測定システム(DTS140)
多種多様な用途に使用可能な高精度分光放射輝度測定システムです。
コニカミノルタジャパン(株) センシング事業部
Instrument Systems
分光エリプソメータ FE-5000/5000S
紫外可視(250〜800nm)の波長領域で測定可能。多層薄膜の膜厚解析が可能
大塚電子(株)
モノクロメーター(分光器)/ 光源
Spectral Productsのダイレクト グレイティング
ドライブ コンパクト モノクロメーター
FITリーディンテックス(株)

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マルチチャンネル分光器 MCPD-9800 他
紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル分光検出器です。最短5msで分光スペクトル測定可能
大塚電子(株)
高速分光測光器(ポリクロメーター)CAS140D
高い精度と光学機械的に堅牢な設計、簡単な操作性を兼ね備えたアレイ分光器です。
コニカミノルタジャパン(株) センシング事業部
Instrument Systems
独国 HÜBNERグループ 一部製品の取り扱いを開始
HÜBNERグループは、70年以上にわたって確立してきたイノベーションの精神により200以上の特許を取得。多岐の分野にわたる先進技術と質の高いサービスを誇ります。
(株)日本レーザー
独国HÜBNER
透過&反射型 テラヘルツ分光&イメージング装置“TeraSys-AiO”
実験室用途のテラヘルツ分光とイメージングを柔軟に構成する装置。透過及び反射の測定で非常に高い柔軟性を有し、オプティクスの再アライメントも不要。
(株)日本レーザー
Rainbow Photnics AG
超高速過渡吸収スペクトロメータ(TAS)
fs増幅器やOPAで使用できるフレキシブルなデザイン。広いスペクトル範囲に対応する高分解能スペクトロメータ。
(株)日本レーザー
Newport Corporation

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分光測色計CM-700d
小型モバイル分光測色計、見易いカラー液晶搭載、SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)自動切り替え機構付き
コニカミノルタジャパン(株) センシング事業部


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光メカニクス

光エレクトロニクス

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光計測機器

単結晶、光学結晶

ピエゾ

フォトンカウンタ・ディテクタ

レーザーアブレーション

光学ソフトウェア

運動解析

高速度カメラ

熱画像計測カメラ

LED測定システム

照度計・輝度計

ディスプレイ計測システム

光沢・アピアランス評価装置

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