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大塚電子(株)

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・ゼータ電位計 ・粒子径・粒度分布

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム　ELSZneo
粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能 		大塚電子(株)

・ゼータ電位計 ・粒子径・粒度分布

ゼータ電位測定システム ELSZ-2000ZS
希薄溶液〜濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。 		大塚電子(株)

・粒子径・粒度分布

ダイナミック光散乱光度計
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム
濃厚系粒径アナライザー 他 		大塚電子(株)

・分光器 ・光計測機器 ・膜厚計

膜厚モニター、反射分光膜厚計、顕微分光膜厚計
マルチチャンネル分光器、ウェハ厚み計、表面形状測定装置、ロードポート対応膜厚測定システム 		大塚電子(株)

・分光器 ・エリプソメーター ・光計測機器

分光エリプソメータ　FE-5000/5000S
紫外可視（250〜800nm）の波長領域で測定可能。多層薄膜の膜厚解析が可能 		大塚電子(株)

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・電気泳動装置

キャピラリ電気泳動システム　Agilent 7100
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台で分析可能。微量サンプルで短時間・高分解能分析が可能。 		大塚電子(株)

・分光器 ・光計測機器

マルチチャンネル分光器　MCPD-9800 他
紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル分光検出器です。最短5msで分光スペクトル測定可能 		大塚電子(株)

・粒子径・粒度分布

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定（粒子径0.6nm〜10μm）装置です。標準1分の高速測定。 		大塚電子(株)


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