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	ビームプロファイリングシステムBeamWatch® AM レーザーを使用したアディティブマニュファクチャリング（AM）、または3Dプリンターシステムで重要となるレーザービームのパラメーターを測定する為に設計されており、スポット径、ウエスト位置、フォーカスシフトなどの計測が可能です。	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
	スキャン式ビームプロファイラナノスキャン（NanoScan）、	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
	光パワーメータ、高速ディテクタ高性能なベンチトップ型からハンディタイプのパワーメータ、高速ディテクタなど多種多様な製品を取り揃え	(株)日本レーザー Newport Corporation 登録製品一覧へ
	USB 3.0グローバルシャッターCMOS高分解能カメラ特に利用頻度の高いNIRおよびNd：YAG波長で、BeamGageの新しい「ブルーミング補正」アルゴリズムを使用することにより精度が向上しています。	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
	Ophir®BeamPeek™　積層造形用の高出力レーザービーム分析および出力測定システム	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
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	自動化製造システム向けビームプロファイリングシステム BeamWatch® Integratedは、生産ラインの重要なレーザービームのパラメーターを測定するために設計された、完全に自動化されたレーザー測定システムです。	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
	ビームウォッチ：非接触ビームプロファイラ kWクラスの高出力ディスク・ファイバーレーザー（波長帯域980-1080nm）のビームプロファイル計測に対応。	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
	カメラ方式・ビームプロファイラビームゲージ、カメラセンサ、パイロカム、モードチェック、ビームキューブ、ビームウォッチ	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ
	大きな拡散ビームの高分解能な測定向け、小さなピクセルサイズの Ophir ® ラージビームプロファイラー	(株)オフィールジャパン登録製品一覧へ

ビームプロファイラ

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