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資料請求番号 NEW1222

イタリア NIREOS 社 分光用干渉計の取り扱いを開始 (株)日本レーザー

フーリエ変換法による超高安定性干渉計。TCSPCや過渡吸収分光に好適。



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株式会社日本レーザー(本社:東京都新宿区西早稲田 2-14-1、代表取締役社長:宇塚達也)では、イタリア NIREOS(ニレオス 本社:イタリア Via Giovanni Durando 39, Milano, Lombardia, 20158 CEO:Fabrizio Preda) の干渉計 GEMINI および GEMINI 2D の取り扱いを開始いたしました。

■NIREOS について
NIREOS は、イタリアのミラノ工科大学からのスピンオフ企業です。主な製品は、分光分析用の干渉計、分光計、ハイバースペクトルカメラです。 革新的なフーリエ変換(FT)分光法をベースとしており、他に類のない高い精度、安定性、および広いスペクトル動作範囲を特長としています。
NIREOS 社の製品は、周波数/時間分解蛍光測定のユーザー向けに、中国、米国で高い実績をもちます。さらに当社が日本総代理店を務めております 独国 Pico Quant 社のTCSPCモジュールとの親和性が高く、数々の蛍光測定で共に成果を挙げています。
概算税抜価格は GEMINI 約300万円〜, GEMINI 2D 約350万円〜(いずれも税抜)で、Pico Quant 社製品のユーザーへの紹介から、 さらに分光分析関連分野への導入を目指します。
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■GEMINI 超高安定性 干渉計
入力光の 2 つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、非常に高い精度と再現性を提供する究極の干渉計です。 同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて、フーリエ変換アプローチに基づき、入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。
スペクトル範囲は標準で 350-2300nm、オプションにて250-3500nm まで拡張可能です。
スキャンレンジとスペクトル範囲をユーザー設定できます。
特許取得済みのコモンパス構造は堅牢で、振動の影響を受けません。
1 アト秒以下の高い精度でパルス遅延の再現性を保証します。光学調整不要のターンキーシステムで、既存セットアップへの取り付けも簡単です。
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記載内容は掲載時点のものでその後変更されている可能性があります。

掲載日: 2020.03.10

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