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大塚電子株式会社

大塚電子株式会社
〒573-1132 大阪府枚方市招提田近3-26-3
TEL.072-855-8550 FAX.072-855-8557

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登録カテゴリー

営業品目
光分析機器
* 光散乱光度計
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS
ゼータ電位測定システム ELSZ-2000Z
粒径・分子量測定システム ELSZ-2000S
多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA New!
フロー式画像解析粒子径・形状測定装置Particle Insight
オ-トサンプラ-付濃厚系粒径アナライザ-(粒径・粒径分布)FPAR-1000AS
濃厚系粒径アナライザー(粒径・粒径分布)FPAR-1000
ダイナミック光散乱光度計(粒径・粒径分布・分子量)DLS-8000 series
ダイナミック光散乱光度計(粒径・粒径分布)DLS-6500 series
スタティック光散乱光度計(分子量)SLS-6500 HL
ファイバー光学動的光散乱光度計FDLS-3000
連続角度光散乱光度計CALLS-1000
高分子フィルムダイナミックス解析装置(構造解析)DYNA-3000
* 分離分析
  キャピラリ電気泳動システムAgilent7100
* 紫外・可視分光光度計
瞬間マルチ測光システム(広ダイナミックレンジタイプ)MCPD-9800
瞬間マルチ測光システム(標準タイプ)MCPD-3700
瞬間マルチ測光システム(高感度タイプ)MCPD-7700
* テラヘルツ分光
テラヘルツ分光システムTR-1000
テラヘルツ膜厚専用機TR-100T
* 膜厚評価装置
  反射分光膜厚計FE-3000
膜厚モニターFE-300
分光エリプソメータFE-5000
卓上型分光エリプソメータFE-5000S
組み込み型膜厚モニターFE-3
450mmウエハ厚検査装置SF-450M
TSVウエハ厚検査装置SF-3000M
分光干渉式ウエハ厚み計SF-3
膜厚測定システムMCPD series
* 光源照明評価装置
全光束測定システム(ハーフムーン)HM series
全光束測定システム(積分全球)FM series
CIE平均化LED光度測定システムAL-1000
配光測定システムGP-1000
高速配光測定システムGP-7
量子効率測定システムQE-2000
* その他
  高感度示差屈折計DRM-3000

その他の光応用機器
* 医療関連機器
炭酸ガス炭素同位体比分析装置 赤外分光分析装置 POCone
血球細胞除去用装置アダモニター MM6-N
ディスクリート方式臨床化学自動分析装置ヘモテクト NS-Plus C
デンシトメトリー分析装置クロマトリーダー DiaScan 10
* FPD評価機器
LCD評価装置 (パネル、モジュール)LCD series
FPDモジュール検査装置MD series
FPDモジュール測定システムMCPD series
ギガコントラストテスターGC-1
高感度分光放射輝度計HS-1000
動画特性測定装置MPRT-2000
動画解像度評価装置MR-2000
セルギャップ検査装置RETS series
位相差フィルム・光学材料検査装置RETS-100
高速リタデーション測定装置RE-100
カラーフィルタ分光特性検査装置LCF series
OLEDデバイス光学特性検査装置
FPD用膜厚測定システムFE series
半導体用膜厚測定システムFE series
* 機能材料評価機器
発光測定システムMCPD series
反射測定システムMCPD series
透過・吸収測定システムMCPD series
物体色測定システムMCPD series
光源測定(色度・輝度・照度)システムMCPD series
微小光学素子測定システムMCPD series
蛍光測定システムMCPD series
複屈折位相差測定システムMCPD series
* インプロセス用評価機器
溶液モニターMCPD series
高速LED光学特性モニターLE-4400/5400
プラズマモニターMCPD series
分光干渉式ウエハ厚み計SF-3
組み込み型膜厚モニターFE-3
蒸着膜モニターMCPD series
多点測定モニターMCPD series
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