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科学機器・ソフト購入ガイド / 技術情報リンク集

提供:ヴァーダー・サイエンティフィック(株)
・試料調製辞典
    Cryogenic preparation of sample materials
    日常の有害物質
    ドライアイス、液体窒素を使った凍結粉砕方法
    RoHS - 電気電子機器に含まれる特定有害物質の使用を制限する指令
    最適な結果を得るための試料調製
・画像式粒子径・粒度分布測定について
・焼きなまし(焼鈍)、灰化など各種熱処理技術について
    Additive Manufacturing
    焼鈍
    灰化
    か焼
    カーボンナノチューブ
    熱硬化
    乾燥
    Graphitization
    強熱減量
    金属粉末射出成形 (MIM) / Ceramic injection moulding (CIM)
    Siliconization (シリコナイズ)
    焼結
    真空はんだ付け & 真空ろう付け
提供:(株)エーデーエス
・プローブの使い方
・微小磁界の測定
・ゼロドリフト特性
提供:大塚電子(株)
ゼータ電位について学ぶ
1.【入門】 ゼータ電位
2.【応用】 ゼータ電位の測定データいろいろ
3.繊維表面のゼータ電位
4.光散乱法によるフミン酸-重金属複合体のゼータ電位および粒径測定
5.平滑表面上に形成された高分子電解質積層膜のゼータ電位
膜厚評価について学ぶ
1.【入門】分光法による膜厚解析
光源照明評価について学ぶ
1.積分半球を用いた光源の全光束測定
2.『イメージで分かる』光源の明るさ
3.光学設計のための配光測定 ファーフィールド/ニアフィールド
粒子径について学ぶ
1.【入門】 微粒子の粒子径(粒径)測定
フィルム・ガラス評価について学ぶ
1.インライン分光計測システム -品質を向上する為に-
キャピラリー電気泳動について学ぶ
1.【入門】 キャピラリー電気泳動
2.【雑話】 キャピラリー電気泳動序論
3.化粧品中の無機陽イオンとアミン類のキャピラリー電気泳動による分析
4.キャピラリー電気泳動による環境水試料の無機イオン分析

提供:(株)コンカレントシステムズ
  • 最新プロセッサベンチマーク
  • SSDによるRAID0の性能評価
  • Xeon 5500/3500シリーズの紹介
  • InfiniBand, Gigabit Ethernet性能比較
  • Pentium4 (FSB 800MHz) 性能評価
  • 光磁気ディスクの話題
  • TelnetDでバックグラウンド実行するための方法
  • WindowsNTで256MB以上の静的領域を持つプログラムの実行(続報)
  • FX!32 新バージョン登場
  • WindowsNT上でUNIXライクな環境を実現するソフトウエア取扱開始
  • Window-NT対応PVM配布のお知らせ
  • Alpha CPUの性能を引き出す計算アルゴリズム
  • ベクトル計算高速化についての考察
提供:ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)
◆エリプソメトリー講座◆
・エリプソメトリーとは何か?
・偏光
・光と物質
・光と物質の相互作用
・エリプソメトリー測定
・エリプソメトリーのデータ解析
・薄膜の膜厚
・光学定数
・参考文献
提供: 東洋磁気工業(株)
・磁気の単位について詳細、単位換算
・物質の着磁(磁化)の原理
・鉄材の磁化(着磁)について
・フラックスメーターを用いた磁束量測定について
・テレビの画像障害について
提供: 日本フリーザー(株)
・ワンコンプレッサーシステムとは
・ダブル冷却システムとは
・ノンフロン製品とは
・防爆冷蔵庫とは
・V-Drive制御とは
提供: (株)ノビテック
取扱い商品のサンプル動画一覧
・ハイスピードカメラ・画像計測機器
・3次元計測機器
・防衛・宇宙関連機器
・ハイスピードカメラ・映像機材
・スポーツサイエンス
提供:フリッチュ・ジャパン(株)
粉砕用例集 700種類に及ぶ試料の機種別粉砕用例集
提供:(株)リガク
アプリケーション
■XRD-DSC X線回折とDSCの同時測定
■高温・低温でのX線回折 温度による物質の挙動の変化を見る
■組成分析 XRFとXRD―元素と化合物の分析
■結晶方位 X線回折(XRD)で結晶方位を決定
■創薬 タンパク質結晶化とX線結晶学
■元素分析 様々なサンプルの様々な元素を
■In vivo 観察 実験動物用3D CT
■ポリマー ポリマーの結晶化度や配向性、熱分解など
■BioSAXS X線小角散乱法によるタンパク質の構造決定
■小角散乱 分布する粒子や空孔のサイズ分布を評価
■インプレーン回折 薄膜のキャラクタリゼーションに
■粉末構造解析 試料の構造解析を粉末法(粉末試料)で行う
■結晶多形 化学式が同じでも結晶構造は?
■粒径・空孔径解析 粒子または空孔の径を算出することができます
■定性・定量分析 様々な物質を非破壊で定性・定量
■極点・配向 結晶の配向状態を定量的に求める
■リートベルト解析 パターンフィッティングにより結晶構造を求めます
■単結晶構造解析 分子の立体構造と結晶内での分子相互の配列を調べる
■微小部(微小量)解析 微小や微小量の分析
■残留応力解析 材料に生じる応力を非破壊にて評価
■半導体評価測定 材料開発から品質管理まで
■極薄膜評価 極端に薄い試料や垂直になった格子面を評価
■膜厚評価 膜厚・密度・表面・界面粗さを評価

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