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科学機器・ソフト購入ガイド / 技術情報リンク集

提供:ヴァーダー・サイエンティフィック(株)
    Cryogenic preparation of sample materials
    日常の有害物質
    Cannabis Products: Sample Preparation for Quality Control
    ドライアイス、液体窒素を使った凍結粉砕方法
    RoHS - 電気電子機器に含まれる特定有害物質の使用を制限する指令
    最適な結果を得るための試料調製
    RETSCH Grinding Mills
    Pulverizer
    ・ガス吸着評価
     吸着
     比表面積
     細孔分布
    加熱アプリケーションと技術情報
提供:大塚電子(株)
ゼータ電位について学ぶ
1.【入門】 ゼータ電位
2.【応用】 ゼータ電位の測定データいろいろ
3.繊維表面のゼータ電位
4.光散乱法によるフミン酸-重金属複合体のゼータ電位および粒径測定
5.平滑表面上に形成された高分子電解質積層膜のゼータ電位
膜厚評価について学ぶ
1.【入門】分光法による膜厚解析
光源照明評価について学ぶ
1.積分半球を用いた光源の全光束測定
2.『イメージで分かる』光源の明るさ
3.光学設計のための配光測定 ファーフィールド/ニアフィールド
粒子径について学ぶ
1.【入門】 微粒子の粒子径(粒径)測定
フィルム・ガラス評価について学ぶ
1.インライン分光計測システム -品質を向上する為に-
キャピラリー電気泳動について学ぶ
1.【入門】 キャピラリー電気泳動
2.【雑話】 キャピラリー電気泳動序論
3.化粧品中の無機陽イオンとアミン類のキャピラリー電気泳動による分析
4.キャピラリー電気泳動による環境水試料の無機イオン分析

提供:(株)コンカレントシステムズ
  • 最新プロセッサベンチマーク
  • SSDによるRAID0の性能評価
  • Xeon 5500/3500シリーズの紹介
  • InfiniBand, Gigabit Ethernet性能比較
  • Pentium4 (FSB 800MHz) 性能評価
  • 光磁気ディスクの話題
  • TelnetDでバックグラウンド実行するための方法
  • WindowsNTで256MB以上の静的領域を持つプログラムの実行(続報)
  • FX!32 新バージョン登場
  • WindowsNT上でUNIXライクな環境を実現するソフトウエア取扱開始
  • Window-NT対応PVM配布のお知らせ
  • Alpha CPUの性能を引き出す計算アルゴリズム
  • ベクトル計算高速化についての考察
提供:ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)
◆エリプソメトリー講座◆
・エリプソメトリーとは何か?
・偏光
・光と物質
・光と物質の相互作用
・エリプソメトリー測定
・エリプソメトリーのデータ解析
・薄膜の膜厚
・光学定数
・参考文献
提供: 東洋磁気工業(株)
・磁気の単位について詳細、単位換算
・物質の着磁(磁化)の原理
・鉄材の磁化(着磁)について
・フラックスメーターを用いた磁束量測定について
・テレビの画像障害について
提供: 日本フリーザー(株)
・ワンコンプレッサーシステムとは
・ダブル冷却システムとは
・ノンフロン製品とは
・防爆冷蔵庫とは
・V-Drive制御とは
提供: (株)ノビテック
取扱い商品のサンプル動画一覧
・ハイスピードカメラ・画像計測機器
・3次元計測機器
・防衛・宇宙関連機器
・ハイスピードカメラ・映像機材
・スポーツサイエンス
提供:フリッチュ・ジャパン(株)
粉砕用例集 700種類に及ぶ試料の機種別粉砕用例集
提供:(株)リガク
 分野別
■ポリマー&プラスチック
■半導体関連
■医薬品
■セメント
■地質・鉱物
■ナノ粒子
■教育
■結晶学
■鉱業・精錬
■マテリアルサイエンス(物質・材料系科学)
■太陽電池
■石油・石油化学製品

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