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ビームプロファイラ
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Ophir®BeamPeek™　積層造形用の高出力レーザービーム分析および出力測定システム
 		(株)オフィールジャパン
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ビームプロファイリングシステムBeamWatch® AM
レーザーを使用したアディティブマニュファクチャリング（AM）、 または3Dプリンターシステムで重要となるレーザービームのパラメーターを測定する為に設計されており、 スポット径、ウエスト位置、フォーカスシフトなどの計測が可能です。 		(株)オフィールジャパン
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カメラ方式・ビームプロファイラ
ビームゲージ、カメラセンサ、パイロカム、モードチェック、 ビームキューブ、ビームウォッチ 		(株)オフィールジャパン
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ビームウォッチ：非接触ビームプロファイラ
kWクラスの高出力ディスク・ファイバーレーザー（波長帯域980-1080nm）のビームプロファイル計測に対応。 		(株)オフィールジャパン
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光パワーメータ、高速ディテクタ
高性能なベンチトップ型からハンディタイプのパワーメータ、高速ディテクタなど多種多様な製品を取り揃え 		(株)日本レーザー
Newport Corporation
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USB 3.0グローバルシャッターCMOS高分解能カメラ
特に利用頻度の高いNIRおよびNd：YAG波長で、BeamGageの新しい「ブルーミング補正」アルゴリズムを使用することにより精度が向上しています。 		(株)オフィールジャパン
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大きな拡散ビームの高分解能な測定向け、 小さなピクセルサイズの Ophir ® ラージ ビームプロファイラー
 		(株)オフィールジャパン
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スキャン式ビームプロファイラ
ナノスキャン（NanoScan）、 		(株)オフィールジャパン
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自動化製造システム向けビームプロファイリングシステム
BeamWatch® Integratedは、生産ラインの重要なレーザービームのパラメーターを測定するために設計された、完全に自動化されたレーザー測定システムです。 		(株)オフィールジャパン
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