マルチキロワットNIR (950-1100nm) および VIS (420-635nm) 波長レーザー用の非接触ビームプロファイラー
特許取得済みのBeamWatchおよびBeamWatch Plus：レイリー散乱を計測することによって産業用マルチキロワットレーザーを分析する非接触ビームプロファイリングシステム。
NIR（950〜1100nm）およびVIS（420〜635nm）のレーザーに対応。測定可能な最小ビームウェストサイズ：45μm。
測定出力：NIRの場合は400W（VISの場合は3W）以上（最大100kW検証済み）非接触で稼働部品がなく、また軽量でコンパクトな設計が特徴のため、
産業用マルチキロワットレーザーの包括的な分析に最適です。BeamWatchおよびBeamWatch Plusは、リアルタイムに測定された集光曲線から以下の複数のプロファイルを同時に計算し、表示することが出来ます。
・フォーカススポット（ウェスト）幅と位置
・フォーカルシフト
・M2とBPP
・拡がり角
・レイリー長
・傾き角とセントロイド
エンドユーザーまたは技術社向けのBeamWatchレーザー解析ソフトウェアが含まれています。
・フォーカススポット（ウェスト）幅と位置
・フォーカルシフト
・M2とBPP
・拡がり角
・レイリー長
・傾き角とセントロイド
エンドユーザーまたは技術社向けのBeamWatchレーザー解析ソフトウェアが含まれています。