1440〜1650nmの波長範囲における大型ビームのSWIR（短波赤外）診断を解析するためのカメラシステム
通信、防衛、産業用途向けに最大 12.3mm×12.3mm の大型アクティブエリア解析に対応 本製品は、1440〜1650nm の波長範囲における大型ビームの SWIR（短波赤外）診断を解析するためのカメラシステムです。
高コストで ITAR 規制を受ける従来オプションの制約を解消するために設計された Ophir SP403P プロファイラーは、 大型アクティブエリアを必要とするSWIR アプリケーションに向けたコスト効率の高いソリューションを提供します。 アクティブエリアは 12.3mm × 12.3mm、ピクセル数は 4512 × 4512、ピクセルピッチは 2.74μm で、 ビームサイズ 600μm から 12.3mm まで対応可能です。
これにより、広い SWIR ビームを切り取ることなく解析できる視野を確保し、通信ファイバレーザーのプロセス制御、 産業用レーザー加工、防衛・航空宇宙用途、光通信、先進 SWIR システムなど、さまざまな研究開発や生産環境において、 詳細で再現性の高いビーム品質測定を実現します。
「大型 SWIR ビームを扱う組織は、広い視野と予算の間で妥協を強いられてきました」と、 Ophir フォトニクス製品のゼネラルマネージャー、ルーベン・シルバーマン氏は述べています。「Ophir SP403P プロファイラーによって、 その妥協は不要になります。12.3mm のアクティブエリアと高密度 4.5K イメージングの組み合わせにより、誤差を低減し、アライメントを迅速化し、 プロセス制御を向上させるために必要な解像度とカバレッジを、手頃な価格で提供します。 さらに、輸出規制がないため、グローバルな統合も容易です。」
Ophir SP403P SWIR ビームプロファイラーには、最新の Ophir BeamGage®ソフトウェアが付属しており、セットアップ、解析、可視化、 レポート作成を効率化します。業界で最も先進的なビーム解析ソフトウェアである Ophir BeamGage Professional は、MKS 独自のベースライ ン補正アルゴリズム「UltracalTM」に基づいており、このアルゴリズムはレーザービーム測定精度に関する ISO11146-3 規格の策定に寄与しました。
BeamGage ソフトウェアには、レーザービームの正確な ISO 認定測定に必要なすべての計算機能が含まれており、出力やスポット径、パワー密度、スポット位置などを網羅しています。さらに、ソフトウェアは高度な画像処理 機能、NIST トレーサブルな出力測定、トレンドチャート、データログ、合否判定による生産テスト、多言語対応などを提供します。 強力でありながら使いやすいシステムである Ophir SP403P プロファイラーには、コンパクトな USB 3.0 インターフェースも搭載されており、ラボベンチから自動化ラインまで容易に導入できます。
＜提供開始＞
Ophir SP403P SWIR ビームプロファイラーは、(株)オフィールジャパンにて、現在販売中です。 ウェブページ: https://www.ophiropt.com/ja/f/sp403p-usb-laser-beam-profiler
Ophir SP403P SWIR ビームプロファイラーは、高コストで ITAR 規制を受ける従来オプションの制約を解消し、大型の測定アクティブエリアを備えたコスト効率の高い SWIR ソリューションを提供するよう設計されています。
通信、防衛、産業用途向けに最大 12.3mm×12.3mm の大型アクティブエリア解析に対応 本製品は、1440〜1650nm の波長範囲における大型ビームの SWIR（短波赤外）診断を解析するためのカメラシステムです。
高コストで ITAR 規制を受ける従来オプションの制約を解消するために設計された Ophir SP403P プロファイラーは、 大型アクティブエリアを必要とするSWIR アプリケーションに向けたコスト効率の高いソリューションを提供します。 アクティブエリアは 12.3mm × 12.3mm、ピクセル数は 4512 × 4512、ピクセルピッチは 2.74μm で、 ビームサイズ 600μm から 12.3mm まで対応可能です。
これにより、広い SWIR ビームを切り取ることなく解析できる視野を確保し、通信ファイバレーザーのプロセス制御、 産業用レーザー加工、防衛・航空宇宙用途、光通信、先進 SWIR システムなど、さまざまな研究開発や生産環境において、 詳細で再現性の高いビーム品質測定を実現します。
「大型 SWIR ビームを扱う組織は、広い視野と予算の間で妥協を強いられてきました」と、 Ophir フォトニクス製品のゼネラルマネージャー、ルーベン・シルバーマン氏は述べています。「Ophir SP403P プロファイラーによって、 その妥協は不要になります。12.3mm のアクティブエリアと高密度 4.5K イメージングの組み合わせにより、誤差を低減し、アライメントを迅速化し、 プロセス制御を向上させるために必要な解像度とカバレッジを、手頃な価格で提供します。 さらに、輸出規制がないため、グローバルな統合も容易です。」
Ophir SP403P SWIR ビームプロファイラーには、最新の Ophir BeamGage®ソフトウェアが付属しており、セットアップ、解析、可視化、 レポート作成を効率化します。業界で最も先進的なビーム解析ソフトウェアである Ophir BeamGage Professional は、MKS 独自のベースライ ン補正アルゴリズム「UltracalTM」に基づいており、このアルゴリズムはレーザービーム測定精度に関する ISO11146-3 規格の策定に寄与しました。
BeamGage ソフトウェアには、レーザービームの正確な ISO 認定測定に必要なすべての計算機能が含まれており、出力やスポット径、パワー密度、スポット位置などを網羅しています。さらに、ソフトウェアは高度な画像処理 機能、NIST トレーサブルな出力測定、トレンドチャート、データログ、合否判定による生産テスト、多言語対応などを提供します。 強力でありながら使いやすいシステムである Ophir SP403P プロファイラーには、コンパクトな USB 3.0 インターフェースも搭載されており、ラボベンチから自動化ラインまで容易に導入できます。
＜提供開始＞
Ophir SP403P SWIR ビームプロファイラーは、(株)オフィールジャパンにて、現在販売中です。 ウェブページ: https://www.ophiropt.com/ja/f/sp403p-usb-laser-beam-profiler
Ophir SP403P SWIR ビームプロファイラーは、高コストで ITAR 規制を受ける従来オプションの制約を解消し、大型の測定アクティブエリアを備えたコスト効率の高い SWIR ソリューションを提供するよう設計されています。